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FISCHERSCOPE? XULM? 測厚儀
發布時間：2015.09.17 閱讀量：720
- 所屬分類：XRF鍍層測厚儀
- 品牌：德國-菲希爾Fischer
- 型號：FISCHERSCOPE? XULM?
- 發布日期：2015/09/17
產品描述
FISCHERSCOPE® XULM®
X射線熒光測試儀，可在微小樣品上測量鍍層厚度(包括金層測厚、銀層測厚和化金厚度等)和進行材料分析
XULM鍍層厚度測量儀的特點
通過組合可選的高壓和濾片，可以對較薄的鍍層（如50 nm Au 或 100 μm Sn）和較厚的鍍層進行同樣效果的測量.
配有的微聚焦管，可以測量100 μm大小的微小測量點。
比例計數器可實現數千cps（每秒計數率）的高計數率。
從下至上的射線方向，從而可以快速簡便的放置樣品。
底部C型開槽的大容量測量艙 。
XULM鍍層厚度測量儀典型應用領域
電子行業中接插件和觸點上的鍍層
裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS
電鍍鍍層，如大規模生產零件（螺栓和螺母）上的防腐蝕保護層Zn/Fe，ZnNi/Fe
珠寶和鐘表工業
測量電鍍液中金屬成分含量，例如金層測厚、銀層測厚
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