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FISCHERSCOPE? X-RAY XAN? 250/252 測厚儀
發布時間：2015.09.17 閱讀量：711
- 所屬分類：XRF鍍層測厚儀
- 品牌：德國-菲希爾Fischer
- 型號：FISCHERSCOPE? X-RAY XAN? 250/252
- 發布日期：2015/09/17
產品描述
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250/252
高性能X射線熒光測量儀，配有最先進的硅漂移探測器(SDD)，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
特點
配有4 個電動調節的準直器和6個電動調節的基本慮片
配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，還適用于更復雜的多元素分析
由下至上的測量方向，可以非常簡便地實現樣品定位
典型應用領域
對電子和半導體行業中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
對有害物質進行痕量分析，例如，玩具中的鉛含量
在珠寶和手表業，以及在金屬精煉領域，對合金進行高精度的分析
用于高校研究和工業研發領域
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