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FISCHERSCOPE? XDV?-SDD 測厚儀
發布時間：2015.09.17 閱讀量：615
- 所屬分類：XRF鍍層測厚儀
- 品牌：德國-菲希爾Fischer
- 型號：FISCHERSCOPE? XDV?-SDD
- 發布日期：2015/09/17
產品描述
FISCHERSCOPE® XDV®-SDD
高性能X射線熒光測試儀，配有可編程XY平臺和Z軸，可自動測量超薄鍍層和分析痕量元素
高級型號儀器，具有常見的所有功能
射線激發量的靈活性最大，激發量可根據測量面積大小和光譜組成而改變
通過硅漂移探測器，在 > 10萬cps（每秒計數率） 的超高信號量下也可以正常工作，而不會出現能量分辨率的降低
極低的檢測下限和出色的測量重復度
帶有快速、可編程 XY 工作臺的自動測量儀器
大容量便于操作的測量艙
測量極薄的鍍層，例如應用于電子和半導體行業中
痕量分析，例如根據 RoHS、玩具標準、包裝標準對有害物質進行檢測
進行高精度的黃金和貴金屬分析
光伏產業
測量 NiP 鍍層的厚度和成分
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